不管任何一種類型的露點儀都應防止污染鏡面。我們知道，在一定前提下，水汽達到飽和狀態(tài)時，液相仍舊不泛起，或者水在零度以下時仍不結(jié)冰，這種現(xiàn)象稱為過飽和或“過冷”。由于冷源的冷卻點、測溫點和鏡面間的熱傳導有一個過程并存在一定的溫度梯度。另外，一些沸點比水低的輕易冷凝的物質(zhì)(例如有機物)的蒸氣，不問可知將對露點的丈量產(chǎn)生干擾。分體式露點儀晶體振蕩式露點儀利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體振蕩式露點儀。但即使是在純氣的丈量中鏡面的污染亦會隨時間增加而積累。 便攜式露點儀通過優(yōu)秀的DRYCAP硬件設計及自動校準軟件使得正確丈量低濕露點得以實現(xiàn)。這對目視檢露來說將產(chǎn)生負誤差。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。鏡面制冷的方法有：半導體系體例冷、分體式露點儀液氮制冷和高壓空氣制冷?？梢杂谜舭l(fā)溫度來代替“壓力露點”嗎?在冷干機里，蒸發(fā)溫度(蒸發(fā)壓力)的讀數(shù)是不能用來代替壓縮空氣的“壓力露點”的。在現(xiàn)場檢測時：假如丈量正確度要求較高，可選用冷鏡法露點儀；假如要求丈量速度快或氣體污染較重，最好選用阻容法露點儀。由于冷源的冷卻點、測溫點和鏡面間的熱傳導有一個過程并存在一定的溫度梯度。因此在要求不十分嚴格的場合，往往用溫度計來近似丈量壓縮空氣的“壓力露點”。振動頻率法：就是將重量法中的干燥劑換用一種吸濕性的石英晶體，根據(jù)該晶體吸收水分質(zhì)量不同時振動頻率不同的特點，讓樣氣和尺度干燥氣流經(jīng)該晶體，因而產(chǎn)生不同的振動頻率差△f1和△f2，計算兩頻率之差即可得到樣氣的濕度。讓所測樣氣流經(jīng)某一干燥劑，其所含水分被干燥劑吸收，精確稱取干燥劑吸收的水分含量，與樣氣體積之比即為樣氣的濕度。 分體式露點儀習慣上以露點-20℃為界把所測氣體分為高濕度氣體與低濕度氣體（即微量水），這里重點先容低濕度氣體的丈量。不管任何一種類型的露點儀都應防止污染鏡面。不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結(jié)露。對于結(jié)露 (或霜)過程來說，這種現(xiàn)象往往是因為被測氣體和鏡面非常干凈，乃至缺少足足數(shù)目的凝聚核心而引起的。一般說來，分體式露點儀產(chǎn)業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴峻的。露點儀就是丈量直接丈量露點溫度的儀器，露點儀一般可以分為：鏡面式露點儀、電傳感器式露點儀、電解法露點儀、晶體振蕩式露點儀、紅外露點儀、半導體傳感器露點儀等。實際證實用五氧化二磷作電解質(zhì)“微水分測定儀”來丈量經(jīng)冷干機處理的壓縮空氣的“壓力露點”時，誤差很大。這是一項較新的技術(shù)，目前尚處于不十分成熟的階段。       

       詳情登錄：www.ulong88.com進行了解